杜雪成

【个人简介】

杜雪成，男，汉族，工学博士，助理研究员，硕士研究生导师，2017年毕业于西安交通大学能源与动力工程学院，核科学与技术专业博士。主持国家自然科学青年基金项目1项、湖南省自然科学青年基金项目1项、湖南省教育厅重点项目1项、核反应堆系统设计技术重点实验室开放课题1项；参与国家自然科学基金面上项目1项、省部级预研基金项目2项。主要研究方向为电子元器件辐射效应及抗辐射加固研究，重点开展纳米级SRAM器件、FPGA、SoC单粒子效应机理和抗辐射加固设计方法研究；《科学出版社》出版专著一部，在《Nucl. Instr. And Meth.A》、《IEEE Transaction on Nuclear Science》、《Microelectronics Reliability》等期刊发表SCI/EI论文10余篇。

【近年科研项目】

[1]2024.01-2026.12 国家自然科学青年基金项目单粒子效应对基于纳米级异构多核SoC的卷积神经网络系统影响机理研究负责人

[2]2023.01-2025.12 湖南省自然科学青年基金项目脉冲激光模拟卷积神经系统单粒子效应研究负责人

[3]2021.9-2023.04核反应堆系统设计技术重点实验室开放课题

核动力装置仪控系统FPGA辐射效应及抗辐射加固研究负责人

[4]2021.01-2023.12湖南省教育厅重点项目基于16纳米集成电路单粒子效应软错误研究 负责人

【近年发表论著】

[1]贺朝会，杜雪成，杨卫涛，杜小智.《纳米级系统芯片单粒子效应研究》

[2]Xu Xiong,Xuecheng Du*, Bo Zheng, et al. Analysis of the impact on soft error in AXI CDMA based on Xilinx Zynq-7000 FPGA[J]. Nucl. Instr. And Meth.A, 2022, 1037: 166913.

[3]Xu Xiong,Xuecheng Du*, BoZheng, et al. Soft Error Sensitivity Analysis Based on 40nm SRAM-based FPGA[J]. Electronics, 2022,11(23):3844

[4]Weitao Yang,Xuecheng Du, Yonghong Li, et al. Single event effect propagation investigation on nanoscale system-on-chip applying the microbeam heavy ion and event tree analysis[J]. Nuclear Science and Techniques, 2021,32:106.

[5]Xuecheng Du, Chaohui He*, Shuhuan Liu, et al. Analysis of sensitive blocks of soft errors in the Xilinx Zynq-7000 System-on-chip[J]. Nucl. Instr. And Meth.A,2019, 940:125-128.

[6]Weitao Yang,Xuecheng Du, et al. Microbeam heavy ion single event effect on Xilinx 28nm system-on-chip[J]. IEEE Transaction on Nuclear Science, 2018, 65(1):545-549

[7]Xuecheng Du, Shuhuan Liu*, Dongyang Luo, et al. Single event effects sensitivity of low energy proton in Xilinx Zynq-7010 System on Chip[J]. Microelectronics Reliability, 2017(71):65-70.

[8]Xuecheng Du, Chaohui He*, Shuhuan Liu, et al. Measurement of single event effects induced by alpha particles in the Xilinx Zynq-7010 System-on-Chip[J]. Journal of Nuclear Science and Technology, 2017,54(3):282-292

[9]Shuhuan Liu*,Xuecheng Du, et al. Primary investigation the impact of the external memory (DDR3) failures on the performance of Xilinx Zynq-7010 SoC based system using laser irradiation[J]. Nucl. Instr. And Meth.B,2017,406：449-455.

[10]Xuecheng Du, Chaohui He, Shuhuan Liu*, et al. Soft error evaluation and Vulnerability analysis in Xilinx Zynq-7010 system-on-chip[J]. Nucl. Instr. And Meth.A,2016,836:344-348.

【招生要求】

1.有一定英语阅读水平，能够独立阅读英文资料等。

2.具有一定科研实验能力，掌握基本实验方法。

3.基础知识牢固，具备一定的专业知识。

4.性格开朗，态度认真，积极向上，踏实肯干。

5.具有一定的创新能力。

【联系方式】

邮箱：duxuecheng@usc.edu.cn

电话：18706747863