杜雪成

【个人简介】

杜雪成，男，汉族，工学博士，助理研究员，硕士研究生导师，2017年毕业于西安交通大学能源与动力工程学院，核科学与技术专业博士。主持国家自然科学青年基金项目1项、湖南省自然科学青年基金项目1项、湖南省教育厅重点项目1项、核反应堆系统设计技术重点实验室开放课题1项、南华大学博士启动基金项目1项；参与国家自然科学基金面上项目1项、省部级预研基金项目2项。主要研究方向为电子元器件、集成电路辐射效应及抗辐射加固研究，重点开展纳米级FPGA、SoC、AI芯片、MEMS器件辐射效应和抗辐射加固研究；《科学出版社》出版专著一部，在《Nucl. Instr. And Meth.A》、《Chinese Physics B》、《IEEE Transaction on Nuclear Science》、《Microelectronics Reliability》等期刊发表SCI/EI论文10余篇。指导本科生获第七届高校学生课外“核+X”创意大赛国家三等奖，指导硕士研究生获第六届全国辐射物理学术交流会优秀青年论文奖。

【近年科研项目】

[1] 国家自然科学基金青年项目：单粒子效应对基于纳米级异构多核SoC的卷积神经网络系统影响机理研究，2024.01-2026.12，项目主持人；

[2] 湖南省自然科学基金青年项目：脉冲激光模拟卷积神经系统单粒子效应研究，2023.01-2025.12，项目主持人；

[3] 核反应堆系统设计技术重点实验室开放课题：核动力装置仪控系统FPGA辐射效应及抗辐射加固研究，2021.09-2023.04，项目主持人；

[4] 湖南省教育厅重点项目：基于16纳米集成电路单粒子效应软错误研究，2021.01-2023.12，项目主持人；

[5] 国家自然科学基金面上项目：纳米级系统芯片的重离子单粒子效应机理及加固方法研究，2015.01-2019.12，项目主要参与人；

[6] 部预研基金：“概率风险分析方法在×××单粒子效应中的应用”，2013.5-2015.4，结题，项目主要参与人。

【近年发表论著】

专著：贺朝会，杜雪成，杨卫涛，杜小智.纳米级系统芯片单粒子效应研究[M].科学出版社，2021. ISBN 978-7-03-067328-2

[1]Xuzhao, Xuecheng Du*, Xu Xiong, et al. Single event effect evaluation on convolution neural network in Xilinx 28nm system on chip[J], Chin. Phys. B,2024,33(7):078501. (SCI）

[2]Xu Zhao, Xuecheng Du*, Xu Xiong, et al. Single event effect evaluation of different communication ways based on 40nm SRAM-FPGA[C]. Proc. SPIE 12610，the third International Conference on Artificial Intelligence and Computer Engineering (ICAICE 2022), 126100M, 28 April 2023.( EI)

[3]Xu Xiong, Xuecheng Du*, Zheng Bo, et al. Soft Error Sensitivity Analysis Based on 40nm SRAM-based FPGA[J]. Electronics, 2022,11(23):3844. (SCI)

[4]Xu Xiong, Xuecheng Du*, Bo Zheng,et al. Analysis of the impact on soft error in AXI CDMA based on Xilinx Zynq-7000 FPGA[J]. Nucl. Instr. And Meth.A, 2022, 1037: 166913. (SCI)

[5]Weitao Yang, Xuecheng Du, Yonghong Li, et al.Single Event effect propagation investigation on nanoscale system-on-chip applying the microbeam heavy ion and event tree analysis[J]. Nuclear Science and Techniques, 2021(32):106.(SCI)

[6]Xuecheng Du, Chaohui He*, Shuhuan Liu, et al. Analysis of sensitive blocks of soft errors in the Xilinx Zynq-7000 System-on-chip[J]. Nucl. Instr. And Meth.A,2019, 940:125-128.(第一作者，SCI)

[7]Weitao Yang, Xuecheng Du, Jinglong Guo, et al. Preliminary single event effect distribution investigation on 28 nm SoC using heavy ion microbeam[J]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2019, 450: 323-326.(SCI)

[8]WeiTao Yang, XueCheng Du, Chaohui He*, et al. Microbeam heavy ion single event effect on Xilinx 28nm system-on-chip[J]. IEEE Transaction on Nuclear Science, 2018, 65(1):545-549.(SCI)

[9]Xuecheng Du, Shuhuan Liu*, Dongyang Luo,et al. Single event effects sensitivity of low energy proton in Xilinx Zynq-7010 System on Chip[J]. Microelectronics Reliability, 2017(71):65-70(SCI)

[10]Xuecheng Du, Chaohui He*, Shuhuan Liu, et al. Measurement of single event effects induced by alpha particles in the Xilinx Zynq-7010 System-on-Chip[J]. Journal of Nuclear Science and Technology, 2017,54(3):282-292. (SCI)

[11]杜雪成，贺朝会， 刘书焕，等.28nm Xilinx Zynq-7000系统级芯片单粒子效应研究进展[J].现代应用物理, 2017, 8(02)：30-35.

[12]Shuhuan Liu*, Xuecheng Du, Xiaozhi Du, et al. Primary investigation the impact of the external memory (DDR3) failures on the performance of Xilinx Zynq-7010 SoC based system using laser irradiation[J]. Nucl. Instr. And Meth. B, 2017, 406：449-455.

[13]Xuecheng Du, Chaohui He, Shuhuan Liu*, et al. Soft error evaluation and Vulnerability analysis in Xilinx Zynq-7010 system-on-chip[J]. Nucl. Instr. And Meth.A,2016,836:344-348.(SCI)

[14]Weitao Yang, Chaohui He, Xuecheng Du, et al.Design and simulation of SET and radiation-harden on DPLL[C]. 2016 IEEE Advanced Information Management, Communicates, Electronic and Automation Control Conference (IMCEC), Xi’an, China, 2016. (EI)

[15]Yao Zhang, Shuhuan Liu, Xuecheng Du,et al.Primary single event effect studies on Xilinx 28-nm System-on-Chip (SoC)[J].Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 2016,831:339-343.(SCI)

[16]Xuecheng Du, Shuhuan Liu, Chaohui He, et al. Single Event Effects Testing of Xilinx Zynq-7010 SoC with ²³⁹Pu Alpha Irradiation[J]. Applied Mechanics and Materials, 2014,678:268-273. (EI)

[17]Yao Zhang, Xin Du, Xuecheng Du, et al. Primary Total Ionizing Dose Effect Studies on Xilinx SoC Irradiated with ⁶⁰Co γ Rays. Applied Mechanics and Materials, 2014,678:252-259.(EI)

【招生要求】

1. 有一定英语阅读水平，能够独立阅读英文资料等。

2. 具有一定科研实验能力，掌握基本实验方法。

3. 基础知识牢固，具备一定的专业知识。

4. 性格开朗，态度认真，积极向上，踏实肯干。

5. 具有一定的创新能力。

【联系方式】

邮箱：duxuecheng@usc.edu.cn